2006年07月25日不正リスク対策講座 【不正検査士マニュアル講座第６回】 ～不正スキーム：知的財産の盗用～を開催！

【不正検査士マニュアル講座第６回】
～不正スキーム：知的財産の盗用～

【開催日時】
2006年8月29日（火）13:00～17:00

【開催場所】
全国町村議員会館　東京都千代田区一番町25番地　　　

【受講料】
一名につき 18,000円（テキスト代を含む、消費税込）

【講座の概要】

「知識社会」といわれる21世紀において、営業秘密の意図せざる漏洩や技術流出などのリスクがあらゆる組織において高まっています。
本セミナーでは、有形資産に比べて管理が難しい知的財産を組織内外の不正からどう保護するかについて、不正調査およびコンサルティングを国際的に展開するクロール・インターナショナル・インクの東京支社長に、事例も交えて講演していただきます。御社の知財保護強化にご活用ください。

【プログラム】

・知的財産盗用をめぐる最近の情況
・組織内で狙われやすいターゲット
・秘密情報を盗む方法
・知的財産管理強化のポイント（体制づくり、従業員教育）

【講師プロフィール】

影山正（かげやまただし）氏

クロール・インターナショナル・インク　日本・韓国統括支社長

1999年クロール社に入社。2005年5月より現職。テロ対策、不正対策、知的財産保護対策など幅広い分野において、企業や政府機関に対するビジネスインテリジェンスの提供、リスクコンサルティングを展開している。

公認不正検査士、ACFE JAPANアドバイザリー・コミッティー委員

【主催】

ACFE JAPAN　（公認不正検査士協会日本支部）
http://www.acfe.jp/
東京都千代田区内幸町1-1-7大和生命ビル7階
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FAX [phone]
mail [e-mail]

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