アドバンテスト、ＳｏＣデバイス向け「コンシューマ・テスト・ソリューション」を発売
ＳｏＣデバイス向けに「コンシューマ・テスト・ソリューション」を販売開始
コンシューマ向けＳｏＣデバイス用にＴ２０００テスト・システムで新たな低コスト・ソリューションを発表
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：丸山利雄）は、デジタル家電などに搭載されるＳｏＣデバイス向けに、テスト・コストの大幅な低減を実現する『コンシューマ・テスト・ソリューション』を開発し、来年６月より販売を開始いたします。
また、この新たなソリューションは、２００６年１２月６日～８日に幕張メッセで開催される「セミコン・ジャパン２００６」に出展いたします。
薄型デジタル・テレビやＤＶＤプレーヤなどのデジタル・コンシューマ市場は、今後も世界的規模での拡大が見込まれておりますが、同時に競争の激しさから大幅な市場価格の下落が予想されております。この傾向は搭載されるデバイスへも波及しており、高機能化や高集積化によりグラフィックなどのメモリ機能が強化され、テストが複雑化する反面、テスト・コスト低減への対応が求められるようになっております。また、先端テクノロジーが次々と搭載されるデバイスに対して、常に新規テスタ投資を継続しなければならないという状況は、これまで半導体メーカーの大きな負担になっていました。
このたび発表する『コンシューマ・テスト・ソリューション』は、新規に開発したテスト・システム「Ｔ２０００」（ＬＳメインフレーム）、多機能同測機能を強化した高速デジタル試験用モジュールおよびアナログ試験用モジュールから構成されており、高機能化が進むコンシューマ向けＳｏＣデバイスのテスト・コストを当社従来比１／２に低減することが可能です。また、フロアスペースは、従来機種以下に抑えながら２倍の同測数を可能にした省スペース設計となっております。なお、測定デバイスの種類に合わせ、試験モジュールをフレキシブルに組み合わせていただくことが可能ですので、お客様には最適構成で低コストなテスト環境を提供いたします。
デジタル試験用モジュールでは、高性能化するＳｏＣデバイス向けに、高密度実装技術を用いることで従来比４倍の１２８チャンネルを持つ８００Ｍｂｐｓ、５００Ｍｂｐｓの２種類の高速デジタル試験モジュールを用意しております。また、どちらのモジュールにもメモリ・テストおよびＳＣＡＮ機能を搭載しており、メモリを内蔵した高機能ＳｏＣデバイスやＤＦＴ試験にも対応しています。
さらに、アナログ測定機能を強化し、対応アプリケーションの拡大を図るため、コンシューマ向けデバイスに必要とされるオーディオ帯試験に対応するモジュール（ＡＡＷＧＤ）、ＡＤＣ／ＤＡＣのリニアリティ試験を低コストかつ高精度に実現するモジュール（ＰＭＵ３２）を新たに用意しております。
これらの測定モジュールは、多チャンネル供給により従来比２倍の同測数をこれまでの半分以下のモジュール数で可能とし、デバイス試験の低コスト化に貢献いたします。
ＯＰＥＮＳＴＡＲ（Ｒ）規格に基づくＴ２０００テスト・システムの最大の特長は、オープン・アーキテクチャー・プラットフォームによるシステム構築のフレキシビリティにあります。従来のように試験するデバイス毎に用途別のテスト・システムを新規投資することなく、メインフレーム、テストヘッド、および当社または他社製の規格に準拠した多種多様な試験モジュールを組み合わせることによって、デバイスの性能やコスト要求に合わせた最適構成を組むことが可能です。
今後も当社は、ＯＰＥＮＳＴＡＲ規格に準拠した製品を継続的に投入し、市場要求の高まる多様な試験ニーズに対応する幅広いソリューションを提供し、お客様の製品の市場競争力強化に貢献してまいります。
ＯＰＥＮＳＴＡＲ（Ｒ）はＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｔｅｓｔ Ｃｏｎｓｏｒｔｉｕｍ， Ｉｎｃの米国、日本及びその他の国における登録商標または商標です。
［ 価 格 ］
Ｔ２０００テスト・システム（ＬＳメインフレーム／１０２４ＣＨ構成） １００百万円～
※最大構成 ２０４８ＣＨ／価格は構成により異なる
［ 販売目標台数 ］
初年度 １００台（ＬＳメインフレーム）
［ 主な仕様 ］
■ＬＳメインフレーム
電源仕様：ＡＣ２００Ｖ 最大２ｌｉｎｅ
外形寸法：基本構成 Ｄ １０５０（ｍｍ） ｘ Ｗ ８００（ｍｍ） ｘ Ｈ １６００（ｍｍ）
サイトＣＰＵ：最大 ４サイト
■８００Ｍｂｐｓ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｍｏｄｕｌｅ
試験速度：２００／４００／８００Ｍｂｐｓ
ピン数：１２８ｃｈ／Ｍｏｄｕｌｅ
パターン・メモリ：１２８Ｍ Ｖｅｃｔｏｒ Ｍｅｍｏｒｙ （最大）
Ｗｉｔｈ ＳＣＡＮ／Ｍｅｍｏｒｙ Ｔｅｓｔ Ｃａｐａｂｉｌｉｔｙ
■５００Ｍｂｐｓ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｍｏｄｕｌｅ
試験速度：１２５／２５０／５００Ｍｂｐｓ
ピン数：１２８ｃｈ／Ｍｏｄｕｌｅ
パターン・メモリ：１２８Ｍ Ｖｅｃｔｏｒ Ｍｅｍｏｒｙ （最大）
Ｗｉｔｈ ＳＣＡＮ／Ｍｅｍｏｒｙ Ｔｅｓｔ Ｃａｐａｂｉｌｉｔｙ
＜ 製品に関するお問い合わせ先 ＞
営業本部 ＡＴＥソリューションビジネス部
電話：０３－３２１４－７５０５