アドバンテスト、ダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ６２４１」を販売
ダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ６２４１」を販売開始
最大５１２個同測高スループット・ハンドラにより
ＤＲＡＭのテスト・コスト低減を実現
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区社長：丸山利雄）は、ＤＤＲ２／３－ＳＤＲＡＭ等のメモリ・デバイスを、最大５１２個同時に２０，０００個／時間の高スループットで試験できる、ダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ６２４１」を開発し、販売を開始しました。
ＰＣや携帯電話、携帯情報端末機などのデジタル家電の市場は着実に拡大し、またそれぞれの機能の高度化も著しく進んでおります。ＰＣに搭載されるＤＤＲ２－ＳＤＲＡＭ等の汎用メモリ市場では、Ｗｉｎｄｏｗｓ Ｖｉｓｔａ（ＴＭ）（注） の発売等により今後も高成長が予測されており、２００８年にはＤＤＲ３－ＳＤＲＡＭの量産の本格化が予想されております。また、携帯電話やデジタルカメラなどに代表されるデジタル家電の分野においても、高機能化が進む汎用メモリの需要は確実に成長を続けております。このようにＤＲＡＭ市場では需要の拡大に加え、製品の多機能化や低価格化が進む中、ＤＲＡＭメーカー各社の量産現場からはテスト・コストの低減が強く求められております。
このたび発売した「Ｍ６２４１」は、ハンドラ各機構およびデバイス・インターフェースの高密度設計により、ハンドラ本体を大型化させることなく、同時測定個数最大５１２個という高効率なデバイス搬送を可能にしました。なお、当社ＤＲＡＭ向けメモリ・テスト・システム「Ｔ５５８８」と併せてお使いいただくことにより、従来機種（Ｍ６３００）使用時とほぼ同等のフロアスペースながら従来比２倍の同時測定個数を実現しております。これによりＤＤＲ２／３－ＳＤＲＡＭ等のＤＲＡＭ量産現場における大幅なテスト・コスト低減に貢献いたします。
また、新構造となる温度印加方式を開発し、設定温度までの到達時間を従来比最大５０％の短縮化を実現しました。この新構造の開発によって被測定デバイス（以下、ＤＵＴ）間の温度差のばらつきを抑制し、温度精度は最大１７％向上しております。時短による高効率なテストと歩留まりの向上を可能にしました。
近年、デバイス・インターフェースの設計仕様は、デバイス測定の重要な要素となっており、お客様個々の試験ノウハウにより最適化されるため、仕様がお客様ごとに異なってきております。
「Ｍ６２４１」では、お客様のデバイス・インターフェースの設計最適化に対応するため、測定レイアウト部を容易に交換できるようにキット化しました。従来、測定レイアウト部とハンドラ本体が一体となっていたため、お客様の求めるＤＵＴ 間ピッチに合わせてハンドラ本体からの新規設計が必要でしたが、測定レイアウト部のキット化により、お客様任意のＤＵＴ間ピッチに対してフレキシブルな対応が可能となりました。
さらに、「Ｍ６２４１」ではオペレーターにとっての操作性を向上させるため、日本語、英語のほか、韓国語、中国語と多言語に対応しておりますので、よりグローバルな環境でお使いいただけます。
（注） Ｗｉｎｄｏｗｓ Ｖｉｓｔａ（ＴＭ）は、米国Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ の、米国、日本およびその他の国における商標です。
＜定価＞
Ｍ６２４１ダイナミック・テスト・ハンドラ
７５百万円から（構成により異なる）
＜販売目標＞
初年度２００台
＜主な仕様＞
Ｍ６２４１ ダイナミック・テスト・ハンドラ
対象パッケージ： ＢＧＡ、ＣＳＰ、ＴＳＯＰ１、ＴＳＯＰ２ 他
同時測定数： 最大５１２個
スループット： ２０，０００個／時間
温度印加範囲： －４０℃ ～ ＋１２５℃
－５５℃ ～ ＋１２５℃（オプション）