ローム、二種類の分析方法で国際標準規格「ＩＳＯ／ＩＥＣ１７０２５」を取得
ロームがＩＳＯ／ＩＥＣ１７０２５ 試験所認定を取得！
複数の試験方法で認定を受けたのは全国で初めて
半導体メーカーのローム株式会社（本社：京都市）は、このほど、国際的な試験所及び校正機関の国際標準規格である「ＩＳＯ／ＩＥＣ１７０２５（ＪＩＳＱ １７０２５：２００５）」を取得しました。この規格は、ＩＳＯ９０００、ＩＳＯ１４００１などと並んで品質保証体制や、信頼性を評価する上で重要な規格となっており、この認定を受けた試験所の発行するデータは国際的に高い信頼性を有します。
今回認定を受けたのは、半導体・電子部品の組成分析の中でも特に重要になりつつあるＲｏＨＳ規制物質の分析のためには不可欠な分析方法で、有害物質に対する「高周波プラズマ発光分光分析法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）」及び「蛍光Ｘ線分析法（ＸＲＦ）」の二種類の分析方法について、日本の認定機関である（財）日本適合性認定協会（ＪＡＢ）による様々な審査をクリアし、認定に至ったものです。
ロームでは、「品質を第一とする」との企業理念のもとに、業界をリードする高い品質と信頼性を実現すると共に、温室効果ガスの削減や廃棄物の再生資源化などの環境対策についても業界に先駆けて対応を進めてきました。一方、エレクトロニクス業界全体としても、品質、信頼性や、有害物質の排除など、品質や信頼性、環境に対するニーズは年々高まってきており、半導体デバイス、電子部品に求められる分析能力は飛躍的に高くなっています。特に、ＲｏＨＳ指令が施行されたことにより、有害物質の含有についての客観的な証明が迅速に行われることが不可欠となってきています。現在、日本国内においてＪＡＢ認定の試験所は全国で１８２箇所（２００７年３月末現在）ありますが、そのうちＲｏＨＳ分析に対応できる試験所は１８箇所であり、さらにその内訳としては、発光分光分析法のみの試験所が１７箇所、蛍光Ｘ線分析法のみの試験所が１箇所となっており、両方の分析法に対応できる試験所はありませんでした。特に、蛍光Ｘ線分析法についてはまだ公定分析法が定まっていなかったため、認定取得の障害となっていました。ロームではこの蛍光Ｘ線分析法の公定分析法に関する情報をいち早く入手し、技術取得と改善・標準化を進め、業界に先駆けて認定を受けることができました。今回、ロームが、日本で初めてこの両方の分析法に対応した認定を得たことにより、従来、外部の分析機関に依頼していた分析を社内で実施できることが可能になり、お客様に対して迅速な情報提供と、より高レベルな品質保証、信頼性保証が実現できます。具体的には、ポリエチレン及びポリ塩化ビニルに含有されるＣｄ（カドミウム）・Ｐｂ（鉛）の高度な分析が可能となります。
ロームでは、今後、ＡＢＳ樹脂・エポキシ樹脂等に含まれるＣｒ（クロム）、Ｈｇ（水銀）の分析についても順次認定を拡大取得していきたいと考えています。
１．語句説明
公定分析法：圏または公的鵜綱などによつて定められた化学分析口試験方法
２．今回の襲定の内審
（※ 関連資料を参照してください。）
３．認定登録証
（※ 関連資料を参照してください。）
以上