オリンパス、安定した測定が可能な低価格・小型の透過波面測定干渉計を発売
記録再生装置用光学素子の生産ラインで、オペレータの熟練によらず安定した測定が可能に
低価格・小型・簡単操作の透過波面測定干渉計「ＫＩＦ－ＰＵ」
オリンパス株式会社（社長：菊川 剛）は、近年大容量化が進むＤＶＤ、ＨＤ－ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ Ｄｉｓｃ等の記録再生装置用光学素子の品質検査を目的に、低価格・小型・簡単操作を実現し、４０５ｎｍ／６５０ｎｍ帯光学素子の検査が可能な透過波面測定干渉計（※１）「ＫＩＦ－ＰＵ」を日本、アジアの生産工場をターゲットに８月１日から販売を開始します。同装置では、自動で被検体の基準位置調整が可能な自社開発の高分解能多軸制御システム（※２）を搭載し、オペレータの熟練によらず安定した品質検査が行えます。
※１ 干渉計：光の干渉を利用し、基準となる参照面からの反射光と被検面からの反射光とを重ねあわせ、位相差により生じた干渉縞を捉え、被検物の表面形状や透過波面収差（光学性能）を測定する装置。
※２ 高分解能多軸制御システム：圧電素子（電圧を加えると機械的ひずみを生ずる素子）と、弾性ヒンジ（テコの応用で変形量を拡大させる構造）を組み合わせたユニットを利用することで高分解能／長ストローク（分解能０．１５ｕｍ／ストローク１５０ｕｍ）を実現し、画像処理によって被検レンズの位置調整を可能とした位置制御システム。
●発売の概要
製品名：透過波面測定干渉計「ＫＩＦ－ＰＵ」
発売時期：２００７年 ８月１日
国内価格（税込）：１，５７５万円
目標販売台数：５０台／年（日本・アジア）
●主な特長の概要
１．オペレータの熟練によらず安定した測定を実現
２．４０５ｎｍ／６５０ｎｍ帯光学素子の検査が可能
３．低価格を実現
４．小型・高剛性・耐防振性
＊以下、詳細は添付資料をご参照ください。
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