アドバンテスト、最大５１２個同時測定を実現するメモリ・テスト・システムを開発
メモリ・テスト・システム「Ｔ５７６１／Ｔ５７６１ＥＳ」を販売開始
フラッシュメモリデバイスを５１２個同時測定する高スループットテスタ
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：丸山利雄）は、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリのウェハ試験およびパッケージ試験用に、メモリ・テスト・システム「Ｔ５７６１／ Ｔ５７６１ＥＳ」を開発し、１２月１日より販売を開始いたします。
携帯電話やデジタルカメラ、携帯型音楽プレーヤ等、デジタル家電に搭載されるＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリの需要は急速に拡大し続けております。また、パソコンのハードディスクドライブなどの記憶媒体にも採用が進むなど、今後ますますの市場規模拡大が予想されております。ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリは小型化、高信頼性、高速化が進む一方で、ビット単価は年率約４０％下落しており、装置メーカーには、同時測定数の増大や歩留まり率向上など、高効率、低コストな試験ソリューションが求められていました。
このたび発売した「Ｔ５７６１／ Ｔ５７６１ＥＳ」は、フラッシュ・メモリの測定に最適な完全パーサイト・アーキテクチャ機能を最大限に生かし、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリのウェハ試験からパッケージ試験まで対応した、最大５１２個同時測定（当社従来機種比２倍）を実現する高スループットのメモリ・テスト・システムです。新たにエラー訂正機能を搭載したことにより、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリ特有のテスト上の課題を解決し、歩留まりを向上させます。また、試験中にフェイル・ビット数を計数するリアルタイム・カウンタや、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリのブロック管理強化により不要ブロックの試験をスキップするなど、テストタイムの短縮にも寄与しています。これらの機能を実現しながら従来機種と同等以下での価格ラインアップとしましたので、量産ラインにおいてはテスト・コスト低減に大きく寄与いたします。
少量デバイスの評価、量産プログラム開発向けには「Ｔ５７６１」の機能、性能をそのまま維持した「Ｔ５７６１ＥＳ（エンジニアリング・ステーション）」を開発。デバイス評価の簡易化、テスト・プログラムの量産展開が容易となりました。「Ｔ５７６１」「Ｔ５７６１ＥＳ」を通して、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリの設計から量産まで最良のソリューションを提供いたします。
＜定価＞
メモリ・テスト・システムＴ５７６１／ＥＳ ２０百万円から２１０百万円
（構成により異なる）
＜販売目標＞
初年度 １００台 （Ｔ５７６１／ＥＳあわせて）
＜主な仕様＞
Ｔ５７６１
同時測定個数： 最大５１２個
最大試験速度： ６６ＭＨｚ
テストヘッド： １ステーション
Ｔ５７６１ＥＳ
同時測定個数： 最大１６個
最大試験速度： ６６ＭＨｚ
テストヘッド： １ステーション
＜製品に関するお問い合わせ先＞
営業本部ＡＴＥソリューションビジネス部 電話：０３－３２１４－７５０５