アンリツ、光インタフェース対応のシグナルクオリティアナライザ「ＭＰ１８００シリーズ」を発売
光インタフェースに対応した１２．５Ｇｂｉｔ／ｓビットエラーレートテスタ
シグナルクオリティアナライザＭＰ１８００シリーズ
アンリツ株式会社（社長 戸田 博道）は、光インタフェースに対応した１２．５Ｇｂｉｔ／ｓ帯のＢＥＲ（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ：誤り率）試験を実現したシグナルクオリティアナライザＭＰ１８００シリーズ（ＭＰ１８００Ａ／ＭＴ１８１０Ａ）を開発。１１月１日から受注を開始いたします。
ＭＰ１８００シリーズは、小型で柔軟なシステム構成が可能なＢＥＲ測定器です。１２．５Ｇｂｉｔ／ｓまでのＢＥＲ試験が可能。ＸＦＰ（※１）、ＳＦＰ（※２）、ＰＯＮ－ＯＬＴ（※３）など光トランシーバモジュールやデバイス、バックプレーン（※４）試験に最適です。さらに２台のＭＰ１８００Ａに対応したＭＵＸ（※５） ／ＤＥＭＵＸ（※６）、シンセサイザーを組み合わせて使用することで、最高 ５０Ｇｂｉｔ／ｓまでのＢＥＲ試験が行えます。
＊ ＢＥＲ試験
ＢＥＲ（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ（Ｒａｔｉｏ））試験とは、パターン信号を発信端から投入し、ビットエラー（受信端でパルスが消滅したり、不要なパルスが発生したりすること）をカウントし、伝送品質を検証する試験です。試験構成はパターン信号発生機器とビットエラーをカウントする測定機器で構成されます。
［開発の背景］
インターネットの普及と伝送容量の増大により、バックボーンの伝送速度が２．５Ｇｂｉｔ／ｓ、１０Ｇｂｉｔ／ｓと高速化し、近年では４０Ｇｂｉｔ／ｓの伝送システムも商用化され始めています。これに伴い、伝送装置のデータ転送速度の高速化を可能とする光トランシーバモジュールやデバイスの研究、開発が盛んに行われ、さまざまなビットレート、信号レベル、パターンを送受信しその波形を評価できるＢＥＲ測定器のニーズが高まっています。
そこで、アンリツは、既存の１０Ｇ帯誤り率測定装置の小型化を図り、ＢＥＲ試験に必要な機能のモジュール化を実現。新たにシグナルクオリティアナライザＭＰ１８００シリーズを開発いたしました。用途に応じた試験システムが簡易に構築でき、１２．５Ｇｂｉｔ／ｓ、４３．５Ｇｂｉｔ／ｓ帯の高速伝送用モジュール、デバイスの開発・製造・検査が効率よく行えます。
［製品概要］
シグナルクオリティアナライザＭＰ１８００シリーズ（ＭＰ１８００Ａ／ＭＴ１８１０Ａ）は、１２．５Ｇｂｉｔ／ｓまでの光トランシーバモジュールやデバイスに対応したＢＥＲ測定器です。さらに、２台のＭＰ１８００Ａに対応したＭＵＸ／ＤＥＭＵＸ、シンセサイザーと組み合わせて使用することで、最高 ５０Ｇｂｉｔ／ｓまでのＢＥＲ試験が行えます。
プラグインユニット形式を採用した小型のＢＥＲ測定器であり、５種類のスロット式モジュールと各種オプションユニットを用途に応じて選択でき、柔軟な試験システムの構築が可能。高速光トランシーバモジュールやデバイス、バックプレーンなどのＢＥＲ試験が効率良く行えます。
ＭＰ１８００Ａは、６つのスロット式モジュールが挿入でき、Ｗｉｎｄｏｗｓ（Ｒ）（注）ＸＰを使用したＧＵＩとテンキー、ロータリーエンコーダを備え、研究、開発に適しています。ＭＴ１８１０Ａは４つのスロット式モジュールが挿入できる低価格モデルであり、イーサネットを通して専用アプリケーションをインストールした外部ＰＣから制御。製造・検査用途に利用できます。
（注）Ｗｉｎｄｏｗｓ は、Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎの米国およびその他の国における登録商標です。
［主な機能・性能］
□差動電気インタフェース搭載
高速インタフェースで必須の差動電気インタフェースを有しており、高速ＩＣの評価に対応できます。
□豊富な評価用パターン
擬似ランダムパターン（ＰＲＢＳ）、ゼロ置換パターン（Ｚｅｒｏ－ｓｕｂ）、ユーザプログラムパターンに加え、実際の伝送装置で使われるフレーム信号とＰＲＢＳを組み合わせたミックスパターンやコンピュータ上での伝送信号をエミュレートできるシーケンスパターンを
使用できます。
□光波長、光パワーの条件変更が容易
光インタフェースとしてＳＦＰまたはＸＦＰの電気、光変換モジュールを用意しており、簡単に波長や光パワー条件を変更できます。
□測定項目：ＢＥＲ、インサーション／オミッションエラー（※７）、トランジッション／ノントラジッションエラー（※８）、周波数、データキャプチャ（１２８ Ｍｂｉｔ）、アイマージン（※９）、アイダイヤグラム（※１０）、Ｑ値（※１１）、バスタブ（※１２）、ＩＳＩ測定（※１３）
［対象市場・用途］
□ 光トランシーバモジュール、デバイスの開発、製造、検査
□ 最高１２．５ Ｇｂｉｔ／ｓまでのＰＯＮ－ＯＬＴアップストリーム試験
□ バックプレーン、マザーボード、光導波路の開発
□ ４０ Ｇｂｉｔ／ｓ帯デバイスの開発、製造検査
［営業情報］
□受注開始：平成１８年１１月１日
□予定販売台数：国内／海外計 ４００セット（初年度１年間）
［用語解説］
（※１） ＸＦＰ
１０ Ｇｉｇａｂｉｔ Ｓｍａｌｌ Ｆｏｒｍ Ｆａｃｔｏｒ Ｐｌｕｇｇａｂｌｅ の呼称で、ＭＳＡ光モジュールの一つ。
（※２） ＳＦＰ
Ｓｍａｌｌ Ｆｏｒｍ Ｆａｃｔｏｒ Ｐｌｕｇｇａｂｌｅ の呼称で、ＭＳＡ光モジュールの一つ。
（※３） ＰＯＮ－ＯＬＴ
ＰＯＮシステムの構成要素の一つで、センター局に設置するＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｌｉｎｅ Ｔｅｒｍｉｎａｌ）と、加入者宅に設置するＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ｕｎｉｔ）から構成されている。
（※４） バックプレーン
バックエンドに組み込まれている物理的な基板。
（※５） ＭＵＸ
多数の入力信号を、時分割多重して一つの信号に変換する。
（※６） ＤＥＭＵＸ
ひとつの入力信号を、時分割分離して多数の信号に変換する。
（※７） インサーション／オミッションエラー
本来０であるべきデータが１になったエラーをインサーションエラー、本来１であるべきデータが０になったエラーをオミッションエラーという。
（※８） トランジッション／ノントラジッションエラー
０または１が変化したビットのエラーをトランジッションエラー、０または１が連続したビットのエラーをノントランジッションエラーという。
（※９） アイマージン
指定した誤り率以下になるデータの時間軸、振幅方向の余裕区間を数値化する測定。
（※１０） アイダイヤグラム
一定の誤り率になるポイントを結んで等高線を描く測定。
（※１１） Ｑ値
データに含まれる振幅ノイズ成分を数値化する測定。
（※１２） バスタブ
データに含まれるジッタ成分を数値化する測定。
（※１３） ＩＳＩ測定
評価パターン内の各ビットにおけるエラー発生を表示し、エラーにおける符号間干渉の影響を解析する。