アジレント、高速基板の量産検査向けインサーキット・テスト・システムを発表
Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ３０７０ インサーキット・テスト・システム
アジレント・テクノロジーが、ＤＤＲ２やＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓなどの
高速基板の量産検査に最適なインサーキット・テスト・システムを発表
（１）コネクタの電源／グランド・ピンのオープン不良検出を実現
（２）アナログ・インサーキット・テスト時間を２０％短縮可能
アジレント・テクノロジー株式会社（社長：海老原 稔、本社：東京都八王子市高倉町９番１号）は、プリント基板の量産基板を行なうインサーキット・テスト・システムの最新版として、高いテスト・スループットと幅広い検査可能範囲を実現した「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ３０７０ インサーキット・テスト・システム」を発表、本日より販売を開始します。出荷開始は、２００７年４月を予定しています。販売開始後１年間で６０システムの販売を目指します。
今回発表の「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ３０７０ インサーキット・テスト・システム」は、既存モデルの「Ａｇｉｌｅｎｔ ３０７０シリーズ」の柔軟なシステム構成と、「Ａｇｉｌｅｎｔ ｉ５０００シリーズ」のＷｉｎｄｏｗｓ（Ｒ）ベースのグラフィカル・ユーザ・インタフェースという特長をあわせ持つ最新モデルです。
「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ３０７０」では、新たにネットワーク・パラメータ測定（ＮＰＭ）機能を搭載しています。これにより、従来、インサーキット・テスト・システムでは測定が不可能とされてきたコネクタの電源とグランド・ピンのオープン不良検出ができるようになりました。また、アナログ・インサーキットのテスト時間は、既存モデルの「Ａｇｉｌｅｎｔ ３０７０シリーズ」と比べて、一般的な基板で約２０％程度の時間短縮を実現しています。
◆市場状況
電子機器の内部に使われている基板の量産検査においては、回路にプローブを立てて実際に電気を流して回路の動作を検証するインサーキット・テスト・システムが広く使われています。近年、この基板はますます高機能化、複雑化が進んでおり、その量産検査にかかる時間や検査用のプログラムの開発期間も長くなってきています。
また、コネクタにおける電源／グランド・ピンのオープン不良は、従来のインサーキット・テスタでは検出が困難でした。最近のＤＤＲ２やＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓなどの高速信号伝送では、電源／グランド・ピンがコネクタの全ピン数の３５％から４５％を占めるまでに増えており、製品の市場品質向上のためにこれらのピンのオープン不良検査の手法が求められていました。
アジレントでは、これらのニーズに対応するため、テスト時間やテストプログラム開発期間の短縮を実現しながら、コネクタにおける電源／グランド・ピンのオープン不良の検出もできる新たなインサーキット・テスト・システムを開発しました。
◆主な特長
＊コネクタの電源／グランド・ピン間のオープン不良検出を実現：
ベクターレス・テスト技術（＊１）の最新版として「ＶＴＥＰ ｖ２．０」を採用しています。この技術は既存のＶＴＥＰおよびｉＶＴＥＰに業界初のネットワーク・パラメータ測定（ＮＰＭ）機能を加えたものです。ＮＰＭ機能の追加により、従来、インサーキット・テスタでは不可能とされてきたコネクタの電源／グランド・ピンのオープン不良が検出できるようになりました。ＤＤＲ２やＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓなど、高速信号伝送の回路を搭載した基板の測定に最適な機能です。
＊アナログ・テスト時間の２０％短縮を実現：
自動プログラム生成機能におけるアルゴリズムの大幅な改善に加え、自動デバッグ機能や自動最適化ツールを備えています。これにより、従来のインサーキット・テスト・システム「Ａｇｉｌｅｎｔ ３０７０シリーズ」と比較して、アナログ部品の各テスト時間を１０％から５０％程度短縮できます。一般的な基板では約２０％程度のアナログ・テスト時間短縮を実現可能です。
＊既存システムからのアップグレードにより、投資保護を実現：
既存の「Ａｇｉｌｅｎｔ ３０７０シリーズ」や「Ａｇｉｌｅｎｔ ｉ５０００シリーズ」からのアップグレードが可能です。テストシステムの主なハードウェアだけでなく、これまでの治具、テストプログラム等の資産を有効活用することができます。投資を抑えながら最新のシステムを導入することが可能です。
◆販売方針
＊目標市場：無線通信基地局、サーバーシステム、自動車関連電子機器、高速デジタル基板等に使用される実装基板の量産検査向け
＊参考販売価格：
５７６ピン構成 約１，９００万円
１２５６ピン構成 約２，５００万円
※価格は、モジュール、ピン・カード、電源等の構成により異なります。
＊販売開始後１年間での販売目標： ６０システム
＊販売開始日： 本日
＊出荷開始時期： ２００７年４月を予定
文中に記載されている商品名は、各社の商標または登録商標です。
◆お客様からのお問い合わせ先：
計測お客様窓口 電話：０１２０－４２１－３４５
◆アジレント・テクノロジーについて
アジレント・テクノロジー（ＮＹＳＥ：Ａ）は、コミュニケーション、エレクトロニクス、ライフサイエンス、化学分析市場における世界のプレミア・メジャメント・カンパニーであり、またテクノロジー・リーダーでもあります。１９，０００名の従業員を擁し、１１０カ国以上でビジネスを展開しています。アジレントは、２００６年度、５０億ドルの売上高を達成しました。アジレント・テクノロジーの情報は、以下のウェブサイトでご覧ください。
http://www.agilent.co.jp
＊１ ベクターレス・テスト技術：インサーキット・テスト・システムにおいて基板に電源を供給しないでＩＣのピンのオープン不良を検出する検査手法の一つです。当社では、このベクターレス・テスト技術として、１９９３年に、当社が特許を有するＴｅｓｔＪｅｔ技術を発表しています。さらに、このＴｅｓｔＪｅｔ技術を発展させた ＶＴＥＰ（２００３年）、ｉＶＴＥＰ（２００５年）を発表し、検査可能範囲を拡大しています。今回の新しいＮＰＭもこの技術の延長です。