アドバンテスト、最大３２個同時に試験可能なＬＣＤドライバ・テスト・システムを開発
ＬＣＤドライバ・テスト・システム「Ｔ６３７３」を販売開始
高精細ＬＣＤドライバＩＣを最大３０７２チャンネルで高スループットに試験
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区社長：丸山利雄）は、ＬＣＤソース／ゲートドライバＩＣや、１チップ・コントローラ・ドライバＩＣの試験用に、最大３０７２チャンネルを搭載し、最大３２個同時に試験可能なＬＣＤドライバ・テスト・システム「Ｔ６３７３」を開発し、７月より販売を開始いたします。
翌年に控えた北京オリンピックやアナログテレビ放送から地上デジタルテレビ放送への切り替えなどを背景に、薄型デジタルテレビなどのアプリケーションを中心として、高精細かつ大型の液晶パネルの需要が世界的に拡大しております。これらの需要拡大に伴い、液晶パネルに搭載されるＬＣＤドライバＩＣは、２０１０年までに出荷数ベースで４５％程度の市場拡大が見込まれながら、一方で金額ベースでは７％の増加に留まることが予測されており、ドライバＩＣに対する価格圧力は一層強まることが予想されます。しかしながら、液晶パネルの高精細化や大型化によってドライバＩＣは多ビット化や多ピン化、高速化が進んでおり、それに伴い試験時間も長大化し、テスト・コストの増大を招いておりました。そのためドライバＩＣの量産現場では低コストなテスト・ソリューションが求められておりました。
７月より販売を開始する「Ｔ６３７３」は、画像信号の入力部にあたるデジタル試験用に最大５１２チャンネル（当社従来機種比２倍）、出力部にあたるＬＣＤ試験用には最大３０７２チャンネル（当社従来機種比２倍）を搭載しており、最大３２個まで同時試験が可能です。また、大型液晶テレビなどに用いられる昨今主流の６８４ピンや７２０ピンのドライバＩＣ試験においても、当社従来機種比２倍の４個同時試験が可能ですので、量産現場でのテスト・コスト低減に大きく貢献いたします。
さらに、高精度デジタイザ・ユニットをＬＣＤチャンネル毎に搭載しておりますので、多ピン化かつ多ビット化するドライバＩＣも当社従来機種比約１．５倍の高スループットで試験することが可能です。また、現在、主にデジタル家電などに搭載されている８ｂｉｔ（５１２階調）や１０ｂｉｔ（１０２４階調）のドライバＩＣから、最先端といわれる１２ｂｉｔ（４０９６階調）の高階調ドライバＩＣの高精度試験にも対応しておりますので、量産品種から最新あるいは次世代のドライバＩＣに至るまで、テスト・コストの低減が可能となります。
また、Ｔ６３７３では、最大８７５Ｍｂｐｓの高速デジタル試験機能により、ＰＰＤＳ(Ｒ)＊１ やＭＩＰＩ＊２ などの規格に代表される高速差動小振幅インターフェース部の試験にも対応しておりますので、ＬＣＤドライバＩＣの全機能をこの１台で試験することが可能です。
なお、Ｔ６３７３は、当社従来のＬＣＤドライバ・テスト・システムＴ６３７２の上位機種です。当社従来機種とは、ソフトウエア環境やユーザビリティのみならず上位互換性を確保しておりますので、既存のテスト・プログラムやテスト・ボード、プローブ・カードなど、お客様の現有資産をそのまま活用いただけます。
＊１）ＰＰＤＳ(Ｒ)は米国Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ社の登録商標です。
＊２）ＭＩＰＩはＭｏｂｉｌｅ Ｉｎｄｕｓｔｒｙ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅの略です。
■定価
Ｔ６３７３ＬＣＤドライバ・テスト・システム
９４百万円から（構成により異なる）
■販売目標
初年度 １５０台
■主な仕様
Ｔ６３７３ＬＣＤドライバ・テスト・システム
試験対象デバイス： ＬＣＤソース／ゲートドライバＩＣ、１チップ・コントローラ・ドライバＩＣ、ＭＣＵ、ＭＰＵなど
同時測定数： 最大３２個（ソフトウエア同測、奇数個可能）
ＬＣＤ 測定部： ３０７２ｃｈ（最大）、Ｐｅｒ Ｐｉｎデジタイザ及びＰｅｒ Ｐｉｎ ＤＣ機能搭載
基準電圧部： １６０ｃｈ（最大）
デジタル部： 試験周波数 １２５ＭＨｚ
データレート ２５０Ｍｂｐｓ／５００Ｍｂｐｓ／８７５Ｍｂｐｓ
Ｉ／Ｏチャンネル数 ５１２ｃｈ（最大）
ソフトウエア： Ｖｉｅｗｐｏｉｎｔ(Ｒ)