アドバンテスト、パッケージ試験用メモリ・テスト・システム「Ｔ５３８３」を販売
メモリ・テスト・システム「Ｔ５３８３」を販売開始
メモリ・デバイスの高スループット試験によりテスト・コスト低減を実現
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：丸山利雄）は、ＤＲＡＭ、ＳＤＲＡＭ、ＤＤＲ ＳＤＲＡＭなどの汎用メモリのウェハ試験およびフラッシュ・メモリやＭＣＰ（マルチ・チップ・パッケージ）などのパッケージ試験用に、メモリ・テスト・システム「Ｔ５３８３」を開発し、販売を開始しました。
パソコンに使用されるＤＲＡＭ等の汎用メモリは、 Ｗｉｎｄｏｗｓ Ｖｉｓｔａ（ＴＭ） （注）の発売により今後も高成長が見込まれております。また、携帯電話やデジタルカメラなどに代表されるデジタル家電の分野でも、汎用メモリの需要は確実に拡大を続けています。これらのエレクトロニクス関連機器は、市場競争の激化による製品の多機能化、低価格化が進んでおり、搭載されるＤＲＡＭやフラッシュ・メモリなどのメモリ・デバイスにも、ますます高速・大容量化かつ低価格化が求められています。また、アプリケーションの多様化に伴い、ＭＣＰタイプのメモリ・デバイスの需要も高まってきています。このような市場環境下において、メモリ・デバイスについては、今以上のテスト・コスト低減要求があり、さらにＭＣＰについては、ウェハ・レベルでの高速動作保証（ＫＧＤ試験）が求められています。
このたび発売した「Ｔ５３８３」は、従来機種（Ｔ５３７７Ｓ）と同等のフロア・スペースながら、同時測定個数最大３８４個（従来製品比１．５倍）、最高試験速度２８６ＭＨｚ／５７２Ｍｂｐｓ：ＤＤＲモード時（従来製品比２倍）の性能を実現しました。ＤＲＡＭウェハ試験でのａｔ ｓｐｅｅｄ テストやＫＧＤ試験、フラッシュ・メモリのパッケージ試験に対して、高速・高スループットで測定します。
特に、ＤＲＡＭ前工程試験で広く用いられる冗長救済解析ハード・ウェア（ＭＲＡ４ｅｖ３オプション）は従来機種の約２倍の高速化を達成。キャリブレーション実行時間も従来比１／１０に短縮するなど、テスト・コスト低減に大きく貢献いたします。
また、半導体メーカーの生産ラインにおいて、近年問題となっているプローブカードの熱彎曲問題に対応するため、プローブカード反り防止機構を新規開発し、「Ｔ５３８３」より当社ウェハ・マザーボードに搭載しました。これにより、従来１～２時間程度必要とされていた試験開始までの待ち時間をゼロに削減することが可能です。
（注） Ｗｉｎｄｏｗｓ Ｖｉｓｔａ（ＴＭ）は、米国 Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ の、米国、日本およびその他の国における商標です。
＜定価＞
メモリ・テスト・システムＴ５３８３ １５７百万円から（構成により異なる）
＜販売目標＞
初年度 １００台
＜主な仕様＞
Ｔ５３８３
同時測定個数： 最大３８４個
最大試験速度： ２８６ＭＨｚ／５７２Ｍｂｐｓ（ＤＤＲモード時）
テストヘッド： １ステーション
＜製品に関するお問い合わせ先＞
営業本部ＡＴＥソリューションビジネス部 電話：０３－３２１４－７５０５