アドバンテスト、最大１６個同測のダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ４８４１」を販売
ダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ４８４１」を販売開始
最大１６個同測で、当社従来比３倍の高スループット試験を実現
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区社長：丸山利雄）は、ＢＧＡ、ＣＳＰ、ＱＦＰなどのパッケージを、最大１６個同時に１８，５００個／時間の高スループットで搬送できる、ダイナミック・テスト・ハンドラ「Ｍ４８４１」を開発し、２００７年４月より販売を開始いたします。
なお、当製品は、２００６年１２月６日～８日に幕張メッセで開催される「セミコン・ジャパン２００６」に出展いたします。
現在、携帯電話やゲーム機器をはじめとしてデジタル・コンシューマ市場は急速に成長を続けております。デジタル・コンシューマ市場においては、最終製品の低価格化によって、搭載されるＭＣＵやＤＳＰなどのデバイスの低価格化もますます進んでおります。そのため、デバイスの量産ラインでは、これまで以上にテスト・コストの低減が強く求められています。
来春発売予定の「Ｍ４８４１」は、同時測定個数最大１６個（従来製品比２倍）、１８，５００個／時間（従来製品比３倍以上）の高スループット化を実現し、デバイスの量産ラインにおける低テスト・コスト化に大きく貢献いたします。また、デバイスへの温度印加には恒温槽方式を採用しており、－４０℃の低温から＋１２５℃の高温まで広範囲の温度印加が可能ですので、高信頼性の求められる車載用機器や航空機などに使用されるデバイスの厳しい温度環境試験に対応いたします。
「Ｍ４８４１」では、従来製品から採用しておりますソフト・タッチ・ハンドリング機構を搭載し、ハンドラ内部のモーション・コントロールを最適化することで、高精度な試験環境を提供いたします。さらに、「同時測定個数」、「測定温度範囲」、「処理能力」をお客様のニーズに合わせた最適なユニットから選択できる構造を採用しておりますので、設備導入コストの低減とシステムの最適化が可能です。
販売目標
初年度：８０台
主な仕様
Ｍ４８４１ ダイナミック・テスト・ハンドラ
対象パッケージ：ＢＧＡ、ＣＳＰ、ＱＦＰ、他
同時測定数：最大１６ 個
スループット：１８，５００ 個／時間
温度印加範囲：－４０℃ ～ ＋１２５℃
＜製品に関するお問い合わせ先＞
営業本部 ＡＴＥソリューション ビジネス部 電話：０３－３２１４－７５０５