アドバンテスト、ＳｏＣテスト・システム「Ｔ６５７７」用に３種類のオプションを販売
ＳｏＣテスト・システム「Ｔ６５７７」用に３種類のオプションを販売開始
高機能化するデジタル・コンシューマ・デバイスに低コスト・ソリューションを提供
株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区社長：丸山利雄）は、高機能化するＳｏＣデバイスに求められる多様な試験要求に低コストで応えるため、ＳｏＣテスト・システム「Ｔ６５７７」用に新たなソリューションを開発し、１２月より販売を開始します。
ワールド・ワイドでの需要拡大が予想される携帯電話、薄型デジタル・テレビ、ＤＶＤプレーヤなどに代表されるデジタル・コンシューマ市場において、メーカー間の競争は、激しさを増しております。また、他社製品との差別化要求を背景に、搭載されるデバイスは低価格化だけでなく、高機能化、多機能化、軽薄短小化が進み、現在では単一チップ上にさまざまな機能を混在させる実装技術が多用されており、この傾向は、今後も続くことが予想されております。このようなＳｏＣデバイスにおいては、１デバイス上で多岐にわたる試験が必要となり、また、一部のテスト項目では高度なテスト技術を必要とするため、これまでは高性能かつ高額なテスト・システムによるソリューションしかなく、低テスト・コスト化への大きな障害となっていました。
このたび発売する低コスト・ソリューションは、ＳｏＣテスト・システム「Ｔ６５７７」（２００４年６月発売）上で提供する新たなオプションです。従来、高性能テスタでしか提供できなかったコンシューマ市場向けの高機能・多機能ＳｏＣデバイスの試験も、お客様の現有資産をベースに低コストで実現いたします。
■ＤＤＲ２インターフェース・テスト・オプション
ソース・シンクロナス方式に対応し、ａｔ ｓｐｅｅｄで高速メモリ・インターフェースのファンクション試験やＡＣ試験を低コストで実現。最高６６７Ｍｂｐｓまでの高速Ｗｒｉｔｅ試験に対応します。
■ＢＢＷＧＤ（Ｂａｓｅ Ｂａｎｄ Ｗａｖｅｆｏｒｍ Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ／Ｄｉｇｉｔｉｚｅｒ）オプション
携帯電話などに用いられるＳｏＣデバイスの１００ＭＨｚ帯域クラスのアナログ試験や、ベースバンド信号の試験が可能です。また、１モジュールに各８チャンネルの任意波形発生器と波形デジタイザを搭載したことで、多数個同測によりテスト・コストが約５０％（当社従来比）削減可能です。
■ＳＧ（Ｓｉｎｅ Ｗａｖｅ Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）／ＪＭＭ（Ｊｉｔｔｅｒ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ Ｍｏｄｕｌｅ）オプション
５００ＭＨｚまでの高速正弦波を発生可能で、デジタル家電などに搭載される高速ＡＤコンバータの試験に対応します。また、５００ＭＨｚまでの高速デバイスやＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路のジッタ測定にも対応します。１モジュールに各４チャンネルのＳＧとＪＭＭを搭載したことで、多数個同測によりテスト・コストが約５０％（当社従来比）削減可能です。
なお、それぞれのオプションは、Ｔ６５７７テスト・ヘッド内のスロットに実装して使用します。従来の複雑なテスト・ボード作成が不要となりますので、テスト・ボードの費用、メンテナンス・コストの削減および歩留まりの向上を実現します。
【 定 価 】
・ＤＤＲ２ インターフェース・テスト・オプション ３００万円
・ＢＢＷＧＤオプション ５５０万円
・ＳＧ／ＪＭＭオプション ４００万円
【 販売目標 】
初年度１００台（Ｔ６５７７ 販売目標）
【 製品に関するお問い合わせ先 】
営業本部ＡＴＥ ソリューションビジネス部電話：０３－３２１４－７５０５
※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過または様々な事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。