アジレント、電子機器メーカー向けに低価格インサーキット・テスト・システムを発表
Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００ インサーキット・テスト・システム
アジレント・テクノロジーが、民生用電子機器メーカ向けに
低価格のインサーキット・テスト・システムを発表
「必要十分な検査」機能により、民生用電子機器でもＩＣＴを利用可能に
アジレント・テクノロジー株式会社（社長：海老原 稔、本社：東京都八王子市高倉町９番１号）は、民生用電子機器メーカ向けに、「必要十分な検査」を求めるユーザニーズに対応した低価格のインサーキット・テスト・システム（ＩＣＴ）「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００」を発表、本日より販売を開始します。この製品は、デジタル家電やパソコン用マザーボードなど、低コスト製品の量産検査に向けたものです。出荷開始は２００７年９月を予定しています。販売開始後１年間で４億円の販売を目指します。
「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００」では、主に高い信頼性が要求される製品の基板検査で行なわれるデジタル・インサーキット・テスト機能を除外し、簡易デジタル・テスト機能とすることで、既存の上位機種の半額以下の低価格を実現しました。当社では、「必要十分な検査」を提供することで、従来、価格的な制約から、ＩＣＴがあまり使われていなかった民生用電子機器の分野にも、ＩＣＴの価値を訴求していきます。
従来民生用電子機器の検査に使われてきた製造不良アナライザ（ＭＤＡ）や当社が特許を保有するＴｅｓｔＪｅｔ技術採用のＩＣＴと比べ、「Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００」は、最新のＡｇｉｌｅｎｔ ＶＴＥＰ ｖ２．０ベクターレス・テスト技術（＊１）の採用により、実施可能な検査範囲の拡大を図っています。ＶＴＥＰ ｖ２．０は、ＴｅｓｔＪｅｔ技術をさらに発展させたＶＴＥＰおよびｉＶＴＥＰ技術と新しいＮＰＭ（ネットワーク・パラメータ測定）技術を統合し、マイクロＢＧＡ（ボール・グリッド・アレイ）やフリップ・チップなどの最新の部品のオープン不良検査にも幅広く対応したほか、デスクトップＰＣや通信機器などに広く見られるコネクタの電源とグランド・ピンのオープン不良検査などにも対応しています。
また、使いやすいユーザ・インタフェースにより、システムの操作も容易です。ＡｕｔｏＤｅｂｕｇ機能により、従来は数日かかっていたデバッグ作業を数時間までに短縮し、製品の市場投入を早め、収益を改善することが可能となります。
Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００は、アナログ・インサーキットにおいてテストする部品以外の回路の影響を遮断するための自動ノード・ガーディング機能も搭載しており、ガード・ポイント選定のための手作業が不要で、テストのデバッグ時間短縮に役立ちます。
Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００では治具方式に合わせて２つのシステム・モデルを提供します。１つめは、プレス・ダウン式の典型的なＭＤＡタイプの低価格の治具を使用するモデルです。多くのＭＤＡ治具との互換性があるため、これまでの資産を有効活用しながら既存のＭＤＡの検査可能範囲を広げたいと考えているお客様に最適です。
２つめはバキューム式治具を使用するモデルで、電気モータを使った治具固定システムを採用しています。バキューム式治具は、接続のフラット・ケーブルが不要のため、高い信号純度を実現でき、安定した検査が可能です。また治具交換の時間も短縮できます。
アジレントのＩＣＴ担当のマーケティング・マネージャであるＮＫ Ｃｈａｒｉは次のように語っています。
「プリント基板が複雑になるにつれて、現在のＭＤＡを使った検査では解決すべき課題が多くなってきています。Ｍｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００は低コストで先端のテスト機能を実現しています。使いやすさと不良検出範囲の拡大により生産性を高めることができる、ユニークで導入しやすいソリューションとなっています。」
この製品についてのさらに詳しい情報は以下のウェブサイトでご覧いただけます。
http://www.agilent.com/see/i1000
◆Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔインサーキット・テスト・システムについて
Ａｇｉｌｅｎｔ Ｍｅｄａｌｉｓｔインサーキット・テスト（ＩＣＴ）・システムは、ＩＣＴ業界をリードする柔軟性と安定性により、エレクトロニクス機器メーカが実際に抱える問題を解決します。このシステムは、自由度の高い拡張可能な構成で、製造段階における幅広い課題に対応できることが特長です。互換性のある設計と実績のあるＩＣＴ技術により、業界で類を見ない水準のテスト可搬性、安定性、再現性を提供しています。これにより、システム、製造ライン、サイトなどに縛られず、また測定確度を犠牲にすることなく自由に検査工程を構築することができます。新たにＭｅｄａｌｉｓｔ ｉ１０００をラインナップに加え、アジレントは多様な基板のテストに対応できる幅広いソリューションを提供できるようになりました。
さらに詳しい情報は以下のウェブサイトでご覧いただけます。
http://www.agilent.com/see/ict
◆販売方針
＊目標市場：デジタル家電やパソコン用マザーボードなど、低価格のインサーキット・テストを必要とする民生用電子機器の製造部門向け
＊参考販売価格：約５４０万円から（最小構成価格）
＊販売開始後１年間での販売目標：４億円
＊販売開始日：本日
＊出荷開始時期：２００７年９月
◆お客様からのお問い合わせ先：
計測お客様窓口 電話：０１２０－４２１－３４５
◆アジレント・テクノロジーについて
アジレント・テクノロジー（ＮＹＳＥ：Ａ）は、コミュニケーション、エレクトロニクス、ライフサイエンス、化学分析市場における世界のプレミア・メジャメント・カンパニーであり、またテクノロジー・リーダーでもあります。１９，０００名の従業員を擁し、１１０カ国以上でビジネスを展開しています。アジレントは、２００６年度、５０億ドルの売上高を達成しました。アジレント・テクノロジーの情報は、以下のウェブサイトでご覧ください。
http://www.agilent.co.jp
＊１ ベクターレス・テスト技術：インサーキット・テスト・システムにおいて基板に電源を供給しないでＩＣのピンのオープン不良を検出する検査手法の一つです。当社では、このベクターレス・テスト技術として、１９９３年に、当社が特許を有するＴｅｓｔＪｅｔ技術を発表しています。さらに、このＴｅｓｔＪｅｔ技術を発展させた ＶＴＥＰ（２００３年）、ｉＶＴＥＰ（２００５年）を発表し、検査可能範囲を拡大しています。今年発表しているＮＰＭ（ネットワーク・パラメータ測定）もこの技術の延長です。